金属薄膜的电阻测量主要包括两种技术：四探针法和涡流法。两种测量技术各有其优势，适用于不同的应用场景。
四探针法是一种常用的电学测试技术，用于测量材料的电阻率、电导率及其它电学特性。该方法通过在被测材料上施加电流和探测电压，利用四个探针来准确测量样品的电阻值，广泛应用于半导体材料研究、薄膜材料分析、导电材料表征等领域。
