电阻率测试,方阻测试
测试仪主要性能:
1. 方阻测量范围:四探针探头可测方阻范围: 1mohm/sq~5Mohm/sq
2. 四探针探头测量类型:金属层,植入、掺杂聚合物,硅化物和外延,高阻抗表面,基板
3. 四探针系统电流量程:1uA,10uA,100uA,1mA,10mA,50mA,100mA 七档
4. 四探针标准晶圆测量精度:≤±1%